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Ricamo in or nué di Raffaellino del Garbo, sec. XVI

Opera e tecnica esecutiva:

E’ un ricamo ad or nué applicato su una tavoletta e fa parte del nucleo della raccolta di opere d’arte e arredi antichi dello studioso e collezionista americano Charles Loeser che per effetto delle sue volontà testamentari pervenne al Comune di Firenze nel 1933.
Nell’inventario delle opere destinate al Comune di Firenze allegato al suddetto testamento del 28 maggio 1926, il ricamo è così descritto: “Il frammento di un lavoro ad ago fiorentino del ‘400 che mostra il Cristo Morto retto nella sua tomba da due angeli. Maria Addolorata alla sua destra. Vi è un certo numero di disegni di Raffaellino del Garbo (1466-1524) proprio per questo lavoro ad ago” (Francini, 2000-2001).
Il ricamo è eseguito ad or nué che consiste nel posare dei fili metallici dorati a copia sul fondo della superficie da ricamare. Il ricamatore procede poi ricoprendo i fili metallici con fili di seta colorati, sempre a due a due, seguendo le sfumature del modello a colori. Talvolta i punti di seta sono così fitti da coprire completamente i fili d’oro, altre volte si lascia invece intravedere l’oro ottenendo così un effetto di chiaro-scuro. Gli incarnati ed i capelli sono eseguiti con filato di seta a punto spaccato.

Intervento:

Le complesse problematiche conservative di questo manufatto sono del tutto assimilabili a quelle affrontate nel restauro dei pannelli ricamati su disegno di Antonio del Pollaiolo, anche se alcuni distinguo possono essere fatti, sia sulla finezza del ricamo, che sulla sua composizione e confezione.
Le fasi operative dell’intervento riguardano comunque il distacco dal supporto ligneo, la pulitura del ricamo, il riallineamento e fermatura dei fili metallici del ricamo.

Analisi ed indagini eseguite:

  • Documentazione fotografica in Fluorescenza VIS, UV, IRFC
  • Radiografia
  • Indagini spettroscopiche (FORS)
  • Colorimetria
  • Indagini microchimiche
  • Spettrofotometria FTIR
  • Osservazione al Microscopico Ottico in luce VIS e UV
  • Indagini al SEM
  • Analisi con tecnica µ-Pixe
  • Riflettografia IR scanner